| 展會名稱 | 大塚電子參與CIOE中國光博會 |
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| 展會時間 | 2024-09-11～2024-09-13 |
| 舉辦展館 | 深圳國際會展中心（寶安新展館） |
| 展會介紹 | ■尖端半導體及將來應用AI、機器學習、5G/6G通信技術、量子計算、汽車（EV、自動駕駛）、VR/金屬泊位、宇宙、空移動性/無人機■半導體制造裝置半導體用設計裝置、掩模制造用裝置、晶片制造用裝置、晶片工藝用裝置、組裝用裝置、檢查用裝置、其他關聯(lián)裝置■半導體制造用零件、材料工藝材料、測試材料、組裝材料、基板、零件子系統(tǒng)■各種服務?軟件 |
| 展會名稱 | 納米粒度儀的基本操作&故障排除 |
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| 展會時間 | 2024/10/23 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習會 |
| 展會介紹 | 無法測試出預想的結(jié)果，測試數(shù)據(jù)波動這么大？是設置環(huán)境的不當？運用方法不對？ 還是測試條件設置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務必參加我司的網(wǎng)絡學習會。 |
| 展會名稱 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹 |
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| 展會時間 | 2024年9月25日 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習會 |
| 展會介紹 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹 |
| 展會名稱 | 顯微分光膜厚儀的晶圓圖案對位功能介紹 |
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| 展會時間 | 2024-08-28 15:00:00～2024-08-28 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習會 |
| 展會介紹 | 大塚電子利用光技術，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術支持。 |
| 展會名稱 | 晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導體制程技術介紹 |
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| 展會時間 | 2024-07-24 15:00:00～2024-07-24 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習會 |
| 展會介紹 | 大塚電子利用光技術，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術支持。 |
