測(cè)量機(jī)器

• 高速LED光學(xué)特性儀 LE series
  

  產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步 通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測(cè)量（LE-5400） 同以往的產(chǎn)品相比，測(cè)量、演算、評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型 測(cè)量...
• 顯微分光膜厚儀 OPTM series
  

  測(cè)量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測(cè)量原理：[分光干涉法]. 測(cè)量對(duì)象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測(cè)量范圍：[1nm~92μm]....
• 膜厚量測(cè)儀 FE-300
  

  產(chǎn)品信息 特 長(zhǎng) 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單，短時(shí)...
• 嵌入式膜厚檢測(cè)儀
  

  產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利 第4834847號(hào)） 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量...
• 線掃描膜厚儀【在線型】
  

  采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專利） 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
• 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
  

  即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性 可進(jìn)行高速...