大塚電子（蘇州）有限公司將參加2024年CIOE中國(guó)光博會(huì)，展出位置：3號(hào)館3D13，將展出的產(chǎn)品有：MINUK、OPTM、ELSZ  neo、Smart膜厚計(jì)，真空腔體中在線膜厚檢測(cè)設(shè)備，歡迎您前來(lái)免費(fèi)參觀。

產(chǎn)品介紹:

【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的最高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過(guò)新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。

產(chǎn)品介紹:

測(cè)量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測(cè)量原理：[分光干涉法]. 測(cè)量對(duì)象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測(cè)量范圍：[1nm~92μm]

Smart膜厚計(jì)

高精度可攜帶膜厚計(jì)

“想測(cè)量的‘當(dāng)場(chǎng)’不能馬上測(cè)量”

“因人而異的測(cè)量結(jié)果”

“測(cè)量精度差”

測(cè)量膜厚的時(shí)候，沒有這樣的經(jīng)驗(yàn)嗎？智能膜厚計(jì)具有以下特征，可以解決大家的困難。

可以帶去現(xiàn)場(chǎng)的不利條件類型

因?yàn)楹芎?jiǎn)單所以誰(shuí)都能用

即使是不利類型也能進(jìn)行高精度的測(cè)定

有形狀的樣品也可以用非破壞來(lái)測(cè)量

真空腔體中在線膜厚檢測(cè)設(shè)備

在真空環(huán)境下也可以在多點(diǎn)進(jìn)行反射、透射光譜測(cè)定

通過(guò)使用各種法蘭對(duì)應(yīng)的耐真空纖維，可以在高真空下測(cè)量反射、透射光譜。另外，膜厚運(yùn)算不易受到基膜的上下移動(dòng)的影響，并且采用精度良好的薄膜測(cè)量大冢電子獨(dú)自的算法，可以作為實(shí)時(shí)監(jiān)視器使用。